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受半导体产业路线图对缩小晶体管的快速追求，推动PCB 制造商正在开发更小、更密集的功能更薄的高密度互连(HDI)和多芯片模块(MCM)衬底。具有计量功能的ContourSP 大型面板计量系统是专门设计的在制造过程中测量PCB板的每一层，确保最小配方开发时间、最高产量、最大启动时间和最低生产中每个测量面板的成本的纳米级精密测量仪器。

1.实现最高生产力的独特功能
最高吞吐量：比上一代系统快2倍以上许多新功能：1）动态信号分割(DSS) 2）重新测量功能3） 用于补偿晶片弯曲的地形扫描4）协调文件导入、ESD、面板ID读取器 5）基于Vision64的操作员访问控制?多工具/多功能工厂部署的配方可移植性
2.高分辨率高精度
凭借其新的抗振系统设计和专利Wyko 垂直扫描干涉 测量(VSI),具有应变仪功能的轮廓系统以纳米分辨率执行非常精确的3D临界尺寸(CD)测量。这一功能使Contours能够同时作为强大的表面纹理计量仪器和易于使用的缺陷检测工具执行多项任务。
3.简化的界面增加了运行间
4.核心部件采用：美国知名公司品牌公司提供。